Resumen

Muchos sistemas correlacionados tienen una transición de aislante a metal que puede ser activada por un campo eléctrico. Aunque se sabe que la metalización se produce a través de la formación de filamentos, los detalles de cómo comienza y evoluciona este proceso siguen sin estar claros. Utilizamos reflectividad óptica en funcionamiento para capturar la dinámica de crecimiento de la fase metálica con resolución espacial y temporal. Demostramos que la formación de filamentos se desencadena por nucleación en puntos críticos, con una posterior expansión durante varias décadas en el tiempo. Comparando tres estudios de caso (VO_dos, V₃O₅y V_dosO₃), identificamos el cambio de resistividad a lo largo de la transición como el parámetro crucial que gobierna este proceso. Nuestros resultados proporcionan una caracterización espacio-temporal de la conmutación resistiva volátil en aisladores Mott, que es importante para tecnologías emergentes como la optoelectrónica y la computación neuromórfica.